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PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000µm PI PIFOC系列的壓電撓性平臺(tái)和物鏡掃描儀在定位和掃描任務(wù)中提供高動(dòng)態(tài)性。PI用于平行和垂直于光軸的XY試樣定位以及物鏡 Z聚焦的良好適配解決方案可作為標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品提供。
聯(lián)系電話:18513086679
PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000µm
PI PIFOC系列的壓電撓性平臺(tái)和物鏡掃描儀在定位和掃描任務(wù)中提供高動(dòng)態(tài)性。PI用于平行和垂直于光軸的XY試樣定位以及物鏡 Z聚焦的良好適配解決方案可作為標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品提供。與控制器和所有必需的連接電纜和軟件一起的系統(tǒng)中也可以方便地使用階段。與所有壓電系統(tǒng)一樣,顯微鏡載物臺(tái)和掃描儀在交付時(shí)都經(jīng)過測量日志預(yù)先校準(zhǔn)。
ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000µm
納米分辨率和快速步進(jìn)穩(wěn)定
-帶有數(shù)字控制器、軟件和M32 QuickLock螺紋適配器的完整系統(tǒng)
-USB、RS-232
-傳感器分辨率0.5 nm
-Z堆棧的高動(dòng)態(tài)步進(jìn)和穩(wěn)定
-更多螺紋適配器作為可選附件
-與µManager、MetaMorph和MATLAB兼容
-運(yùn)行中的參數(shù)變化
使用增量式線性編碼器進(jìn)行高精度位置測量
非接觸式光學(xué)編碼器以高的精度直接在平臺(tái)上測量位置。非線性、機(jī)械間隙或彈性變形對測量沒有影響。
PiezoWalk ®行走驅(qū)動(dòng)器的納米精度和高進(jìn)給力
多個(gè)壓電執(zhí)行器在PiezoWalk®行走驅(qū)動(dòng)器中執(zhí)行行走運(yùn)動(dòng),導(dǎo)致跑步者向前進(jìn)給。致動(dòng)器的控制允許以遠(yuǎn)低于一納米的分辨率進(jìn)行小的步進(jìn)和前饋運(yùn)動(dòng)。
用于快速啟動(dòng)生產(chǎn)操作的廣泛軟件
得益于MATLAB 和 NI LabVIEW以及所有常見操作系統(tǒng)(Windows、Linux 和 macOS)的支持,集成幾乎可以在所有環(huán)境中成功 - 快速高效。復(fù)雜的編程示例和PIMikroMove等軟件工具大大縮短了生產(chǎn)操作的時(shí)間。
應(yīng)用領(lǐng)域
-雙光子顯微鏡
-共聚焦顯微鏡
-3D成像
-激光技術(shù)
-干涉測量法
-生物技術(shù)
-顯微操作
-長行程自動(dòng)對焦
PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統(tǒng)2000µm
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